Информационная поддержка по всем возникающим вопросам

Сервисное обслуживание

Доставка по России и СНГ в кратчайшие сроки

Более 500 переоборудованных производственных предприятий

Высокое качество приборов и точность измерения

Узнать актуальную цену

Запросить коммерческое предложение

или проконсультироваться по телефону:

+7 (499) 490-67-72 (Москва)

+7 (473) 204-51-78 (Воронеж)

+7 (863) 209-88-94 (Ростов-на-Дону)

+7 (861) 203-40-01 (Краснодар)

+7 (845) 249-63-11 (Саратов)

Анализатор профиля поверхности SPA 25

Отличительными характеристиками анализатора профиля поверхности SPA 25 является измерение поверхностной топографии и параметров шероховатости с исключительной быстротой и точностью.

Высокая разрешающая способность измерения

SPA 25 использует метод интерферометрии белого света, который отличается высоким разрешением до 0.1 нм даже при использовании небольшого увеличения. Это даёт SPA 25 существенное преимущество перед приборами, работающими по принцип переменного фокусного расстояния или конфокальной микроскопии.

Автоматический предметный столик

Столик с электроприводом перемещает образец под измерительной головкой, и после каждого измерения все изображения состыковываются вместе для последующего анализа поверхности площадью до 300 мм x 300 мм.

Передовое программное обеспечение

Для анализа профиля поверхности SPA 25 использует программное обеспечение MountainsMap® Imaging Topography. MountainsMap®может рассчитать параметры шероховатости в соответствии с международными стандартами ISO 25178, ISO 4287, ISO 13565, ISO 16610 и другие.

Широкая область применения

Благодаря, исключительно высокому разрешению, быстроте анализа и программному обеспечению с интуитивным интерфейсом, SPA 25 может быть использован для решения широкого спектра задач. SPA 25 используется для создания 3D-карты поверхностей и выявления дефектов, вызванных обработкой материала. Совместное использование SPA 25 и оптического анализатора серии OCA позволяет определить значение краевого угла с поправкой на шероховатость поверхности по теории Венцеля.

Высокое разрешение метода позволяет изучать структуру из микрочастиц, которые образовались в результате нанесения на субстрат пиколитровых капель чернил.