Информационная поддержка по всем возникающим вопросам

Сервисное обслуживание

Доставка по России и СНГ в кратчайшие сроки

Более 500 переоборудованных производственных предприятий

Высокое качество приборов и точность измерения

Узнать актуальную цену

Запросить коммерческое предложение

или проконсультироваться по телефону:

+7 (499) 490-67-72 (Москва)

+7 (473) 204-51-78 (Воронеж)

+7 (863) 209-88-94 (Ростов-на-Дону)

+7 (861) 203-40-01 (Краснодар)

+7 (845) 249-63-11 (Саратов)

Дефектоскоп ультразвуковой M2M PANTHER

M2M PANTHER — это компактный и мощный ультразвуковой дефектоскоп, ориентированный на использование в стационарных заводских лабораториях неразрушающего контроля. M2M PANTHER сочетает в себе скорость и производительность ультразвуковой технологии с фазированными решетками, метод TOFD, а также методы TFM (Total Focusing Method, метод общей фокусировки) и FMC (Full Matrix Capture, метод полноматричного захвата).

Особенности прибора

M2M PANTHER имеет возможность работать с датчиками ФАР с высоким разрешением. В сочетании с высокой пропускной способностью M2M PANTHER обеспечивает быструю визуализацию больших зон контроля для облегчения оценки качества изделий. Дефектоскоп имеет степень защиты IP54, он защищен от попадания пыли и может быть использован в помещениях с повышенной влажностью. На корпусе расположены вентиляционные отверстия для оптимальной работы прибора без забора воздуха извне.

M2M PANTHER оснащен уникальным высокоскоростным каналом связи 320 Мбит/с, благодаря чему обеспечивается самая быстрая передача и обработка полученных данных.

Среди функциональных особенностей дефектоскопа M2M PANTHER стоит отметить следующие:

  • Возможность работы с датчиками от 32:128 до 2048:2048 каналов.
  • Более 13 000 законов фокусировки.
  • CAD геометрия детали: пластина, цилиндр, T и Y сечение.
  • CAD геометрия сварного шва.
  • Настройка отчетов контроля.
  • Калькулятор ФАР в режиме реального времени.
  • Калибровка призмы (угол высота).
  • Калибровка амплитуды (ВРЧ, АРК).
  • А-скан, В-скан, С-скан, D-скан, эхо-сигналы, вид сверху, вид сбоку, вид спереди.
  • 3D-визуализация отсканированной области в режиме реального времени.
  • Режимы FMC и TFM (метод полноматричного захвата и метод общей фокусировки).
  • Балансировка амплитуды.
  • Амплитудный диапазон: до 800 %.
  • 3D моделирование в CAD.

Программное обеспечение

Дефектоскоп M2M PANTHER оснащен программным обеспечением Acquire. Это современное ПО для сбора и анализа полученных данных, которое способно визуализировать и управлять конфигурацией А-сканов, TOFD и фазированных антенных решеток, а также режимами FMC и TFM. Оно также позволяет проводить автоматический анализ данных и создавать отчеты. Файлы ПО Acquire полностью совместимы с программным обеспечением анализа CIVA, Enlight и ULTIS.

Детали

Тип прибора

Производитель