Информационная поддержка по всем возникающим вопросам

Сервисное обслуживание

Доставка по России и СНГ в кратчайшие сроки

Более 500 переоборудованных производственных предприятий

Высокое качество приборов и точность измерения

Узнать актуальную цену

Запросить коммерческое предложение

или проконсультироваться по телефону:

+7 (499) 490-67-72 (Москва)

+7 (473) 204-51-78 (Воронеж)

+7 (863) 209-88-94 (Ростов-на-Дону)

+7 (861) 203-40-01 (Краснодар)

+7 (845) 249-63-11 (Саратов)

Сканирующий микроскоп WIN SEM A8000

WIN SEM A8000 — сканирующий электронный микроскоп с термополевым катодом типа Шоттки, увеличение 1x ~ 2.000.000x.

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) A8000, оснащенный электронной пушкой с термополевым катодом типа Шоттки (Schottky FEG), является универсальным высокоразрешающим микроскопом для широкого круга исследуемых материалов. В электронно-оптической колонне микроскопа используется технология ускорительной трубки для уменьшения аберраций и обеспечения высокого пространственного разрешения в том числе и при очень малых ускоряющих напряжениях, что важно при работе с диэлектрическими и чувствительными к электронному облучению материалами.

A8000 в базовой конфигурации укомплектован двумя детекторами вторичных электронов: классическим детектором Эверхарта-Торнли (ETD SED), а также внутрилинзовым детектором вторичных электронов (InLens SED), установленным на оптической оси электронной колонны микроскопа. Дополнительно на микроскоп могут быть установлены твердотельные полупроводниковые детекторы обратно-рассеянных электронов (BSE) и детектор для режима сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM). Возможность детектирования различных электронных сигналов позволяет получать как данные о морфологии поверхности образца, так и информацию о его внутренней структуре. Кроме того микроскоп опционально может быть оснащен аналитическими приставками для анализа химического элементного состава и кристаллографии, исследования оптических и электрических свойств, проведения механических и температурных испытаний.

Совершенная система детектирования:

  • Одновременный сбор сигнала от двух типов детекторов вторичных электронов (SE), обратно-рассеянных электронов (BSE), и детектора сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM).
  • Одновременное отображение морфологии и материального контраста для наиболее полного и всестороннего исследования формы поверхности и структуры образца.

Интуитивный и дружественный интерфейс пользователя:

  • Ясное и не перегруженное расположение элементов управления.
  • Множество интерлоков для безопасного управления микроскопом.
  • Эргономичная работа с клавиатурой.
  • Простое управление, доступное как новичкам, так и экспертам в микроскопии.

Мощная и универсальная аналитическая платформа:

  • Модульный дизайн и масштабируемая архитектура, позволяют проводить дооснащение микроскопа в течение всего срока эксплуатации.
  • Специальные решения от сторонних поставщиков аналитического оборудования доступны по запросу пользователя.
  • Множество портов и интерфейсов для подключения различных дополнительных приставок, таких как: EDS, EBSD, WDS, CL, испытательных столиков, и прочего оборудования

Примеры:

  • Пространственное разрешение: 1,0 нм при 30кВ (SE), 1,5 нм при 1 кВ (SE);
  • Диапазон увеличения: 1x ~ 2.000.000x;
  • Источник электронов: термополевой катод типа Шоттки;
  • Ускоряющее напряжение: 20 В ~ 30 кВ;
  • Ток электронного пучка: 1 пА ~ 20 нА;
  • Вакуумная система: 1 ионный геттерный насос, 1 турбомолекулярный насос, 1 форвакуумный насос;
  • Детекторы: SE (InLens) внутрилинзовый, SE (ETD) в вакуумной камере, BSE, CCD;
  • Дополнительные порты: порты на вакуумной камере для установки дополнительных детекторов и приставок BSE, EDS, EBSD, CL;
  • Координатный стол: 5-осевой полностью моторизованный, диапазон перемещения: X=125 мм, Y=125 мм, Z=50 мм, R=360°, T=-5°~+70°;
  • Максимальный размер образца: внутренний диаметр камеры 330 мм, высота 260 мм;
  • Размер получаемых изображений: 256×256 ~ 16kх16k пикселей;
  • Управление микроскопом: компьютер под управлением ОС Windows, профессиональное ПО для анализа изображений и управления микроскопом, мышь, клавиатура, панель управления;
  • Габариты и вес: основная консоль микроскопа 1900x1100x1800 мм, 800 кг.