Информационная поддержка по всем возникающим вопросам

Сервисное обслуживание

Доставка по России и страны Таможенного союза в кратчайшие сроки

Более 500 переоборудованных производственных предприятий

Высокое качество приборов и точность измерения

Запросить коммерческое предложение

или проконсультироваться по телефону:

+7 (499) 490-67-72 (Москва)

+7 (473) 204-51-78 (Воронеж)

+7 (863) 209-88-94 (Ростов-на-Дону)

+7 (861) 203-40-01 (Краснодар)

+7 (845) 249-63-11 (Саратов)

Микроскоп измерительный ИМ-Ц-2000 П ЧПУ

Госреестр: 89837-23

Микроскопы измерительные ИМ предназначены для измерений линейных и угловых размеров деталей.

Основными элементами конструкции микроскопов являются гранитное основание, на которое установлены предметный столик с нижним осветителем и вертикальный портал с подвижной оптической системой, включающей в себя измерительный блок и верхний осветитель. Измерительный блок может оснащаться оптической окулярной и/или видеоизмерительной системой.

Принцип действия ИМ-Ц – считывание с электронных измерительных шкал осей X, Y значений перемещений подвижного предметного стола и с измерительной шкалы оси Z значений перемещений видеоизмерительного блока. При измерениях по оси Z предусмотрена функция автоматической фокусировки. При необходимости, для измерений по оси Z, приборы могут быть оснащены контактным датчиком. Измерения могут проводиться в ручном или автоматическом режимах.

В качестве блока обработки и вывода результатов измерений микроскопы комплектуются персональным компьютером.

Элементы управления яркости освещения и выключения микроскопов могут располагаться на лицевой или боковой поверхности основания.

Общее описание прибора:

  • Массивное гранитное основание.

  • Гранитный портал.

  • Сервоприводы осей с направляющими.

  • Наличие щуповой системы.

Особенности программного обеспечения:

  • Отображение площади измерения. Эта область в основном используется для отображения изображения и его измерения. Пользователь может сделать более четкое изображение измеряемой детали, регулируя ось Z и освещение. Пользователь может перемещаться по осям X Y измеряемой детали и проводить измерения. Области изображения и область редактирования интегрированы в эту программу, пользователь может выполнять измерения на детали непосредственно с помощью панели инструментов.
  • Полное отображение на дисплее и панель инструментов. Это окно для отображения всех объектов, которые были сделаны. Для некоторых деталей больших размеров этот инструмент можно фиксировать только на локальной площади и редактировать элементы. Используя функцию полного отображения, пользователь получает полную информацию изображения измеряемого элемента а также результаты измерений. Эта область обеспечивает параллельное движение, увеличение, уменьшение, общий обзор, элемент маркировки, сетку и вывод данных.
  • Интерфейс программного обеспечения полностью на русском языке (измерение стандартных геометрических элементов, интерфейс программы и формируемые протоколы измерений на русском языке).
  • Расширение программного обеспечения до уровня CAD (контроль деталей, состоящих из геометрических элементов, с использованием CAD-моделей).
  • Возможность измерения деталей с криволинейным профилем.
  • Возможность измерения параметров формы (измерение прямолинейности, параллельности, перпендикулярности, округлости, симметрии и т.д.).
  • Возможность получения фактических размеров.
  • Возможность обратного инжиниринга, выгрузки электронного чертежа, интегрирования в программу Компас, Autocad .
  • Возможность редактирования протоколов измерений.
  • Вывод протокола в форматах Word и Excel.
  • Наличие опции связи удаленного управления.
  • Возможность плавной регулировки диаскопического и эпископического освещения по сегментам.
  • Возможность дублирования изображения на весь экран второго монитора каждого сектора по отдельности: сектор видеоизображения детали, сектор графической отрисовки измеряемых элементов, сектор показания систем координат, сектор кнопок управления, сектор параметров измеренных элементов, сектор регулировки освещения, а также любого другого сектора интерфейса программного обеспечения.
  • Диапазон измерений линейных размеров по оси X, мм: от 0 до 1500.
  • Диапазон измерений линейных размеров по оси Y, мм: от 0 до 2000.
  • Диапазон измерений линейных размеров по оси Z, мм: от 0 до 350.
  • Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров: для микроскопов класса точности 5 по оси (X, Y) ±(2,9+L/200) мкм; для микроскопов класса точности 4 по оси (X, Y) ±(2,8+L/200) мкм, в плоскости двух осей (X, Y) ±(4,3+L/200) мкм, по оси Z ±(2,8+L/100) мкм; для микроскопов класса точности 3 по оси (X, Y) ±(1,8+L/200) мкм, в плоскости двух осей (X, Y) ±(2,6+L/200) мкм, по оси Z ±(1,8+L/100) мкм; для микроскопов класса точности 2 по оси (X, Y) ±(1,3+L/100) мкм, в плоскости двух осей (X, Y) ±(2,2+L/100) мкм, по оси Z ±(1,7+L/100) мкм; для микроскопов класса точности 1 по оси (X, Y) ±(1,0+L/100) мкм, в плоскости двух осей (X, Y) ±(2,1+L/100) мкм.
  • Диапазон измерений плоского угла: от 0º до 360º.
  • Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений плоского угла: ±14ʺ.